6月23日(月)24日(火)「X線回折の基礎と実際の測定・解析法の紹介」講師:隅谷和嗣 先生

先導物質化学研究所 教職員各位

 

非常勤講師、九州シンクロトロン光研究センター・副主任研究員の隅谷和嗣様による特別講義を開催いたします。みなさまのご来聴をお待ち申し上げます。

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 日 時 : 2014年6月23日(月)15:00~17:00
        2014年6月24日(火)15:00~17:00
 
 会 場 : 筑紫地区先導物質化学研究所A-112
    
 講 師 : 隅谷和嗣 先生
       財団法人佐賀県地域産業支援センター
       九州シンクロトロン光研究センター副主任研究員

 講義の題目:「X線回折の基礎と実際の測定・解析法の紹介」

講義の概要
X線回折は物質の結晶状態の分析や結晶構造の解析に極めて有力な測定手法である。最近の測定装置の自動化やソフトウェアの進歩により、詳しい知識がなくても、容易にX線回折実験が行える環境が整ってきている。しかし、X線回折と一口に言っても、その試料形態や得たい情報によって色々な測定法があり、X線回折の基礎の部分を学ぶことで、より効率のよい測定が可能になり、また必要な情報を引き出すことができる。本講義では、まずX線回折の基礎となる理論的な部分について解説し、様々な試料や目的に応じた種々の実験手法について紹介する。また、粉末X線回折データの解析手法として一般的であるリートベルト解析について、広く利用されているソフトウェアRIETAN-FPを例にとってその利用法を説明し、よりよい解析結果を得るためのコツや注意点について説明する。

 

 

*** 連絡先 ***************
先導物質化学研究所 先端素子材料部門
岡田重人 電話:筑紫93-7841

 

 

Posted:2014/06/10.